Тестирование полупроводниковых приборов и материалов

Тестирование полупроводниковых приборов и материалов

18 сентября 2019 г. компания Tektronix совместно с SERNIA Инжиниринг приглашают на мастер-класс с использованием измерительной системы Keithley 4200-SCS.

Демонстрация системы тестирования полупроводниковых приборов и материалов на базе параметрического анализатора Keithley 4200A-SCS и зондовой станции SemiProbe будет проходить с 10 до 15 часов в Дворовом корпусе Физического факультета МГУ (Москва, Ленинские горы, МГУ, Физический факультет МГУ, Дворовый корпус, д. 1, стр. 2а).

Присутствующие смогут не только ознакомиться с современными решениями для быстрого и эффективного измерения ВАХ, ВФХ и импульсных ВАХ, но и протестировать свои образцы.

У участников мастер-класса будет возможность поработать с источниками-измерителями, электрометрами и измерителем сопротивления Keithley.

Приходите с Вашими объектами исследований. Специалисты продемонстрируют работу системы на Ваших образцах!

Не пропустите – зарегистрируйтесь на мастер-класс прямо сейчас.

На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.