Предприятие «Крокус Наноэлектроника» – первое в России производство интегральных схем на пластинах 300 мм – расширило парк тестового оборудования новым стендом измерительным для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17DT-256, разработанным предприятием «Совтест».
Прибор FT-17DT установлен на участке измерений в чистой комнате компании «Крокус Наноэлектроника» и используется для автоматизированного функционального тестирования микросхем на пластинах 300 мм в процессе производства и на этапе выходного контроля.
ООО «Совтест АТЕ» предлагает гибкое решение для тестирования микросхем, соответствующее требованиям конкретных разработок, позволяющих оптимизировать процесс измерений и добавлять новые функции. Так, система FT-17DT для «Крокус Наноэлектроника» адаптирована для измерений высокочастотных микросхем и запоминающих устройств на основе технологии нового поколения. При этом стоимость решения «Совтест АТЕ» значительно ниже иностранных аналогов. Поставка FT-17DT включает программную платформу для управления процессом измерений XperTest, которая является проприетарной разработкой предприятия «Совтест АТЕ». Тестер FT-17DT является полностью российской разработкой и производится на собственном заводе предприятия в Курске.
«Проведение функционального и параметрического тестирования является неотъемлемой частью процесса производства интегральных микросхем, – рассказал Алексей Хвальковский, директор по разработке продуктов ООО «Крокус Наноэлектроника. – Наше предприятие является самым современным полупроводниковым производством в России, и мы предъявляем соответствующие требования к метрологическому обеспечению. Результат работы с FT-17DT говорит о том, что мы нашли надёжного партнёра в лице ООО «Совтест АТЕ».
Сотрудничество предприятий не ограничивается поставкой данного измерительного комплекса и будет в дальнейшем направлено на развитие и оптимизацию продуктового портфеля «Крокус Наноэлектроника».
Комментарии