Испытания и контроль качества ЭКБ на «ChipEXPO – 2017»

Испытания и контроль качества ЭКБ на «ChipEXPO – 2017»

C 31 октября по 2 ноября 2017 г. в Москве в ЦВК «Экспоцентр» в Павильоне Форум в рамках Юбилейной 15 Международной выставки по электронике, компонентам, оборудованию и технологиям «ChipEXPO – 2017» будет развёрнута тематическая экспозиция «Испытания и контроль качества ЭКБ».

Организации экспозиции «Испытания и контроль качества ЭКБ» было инициировано Департаментом радиоэлектронной промышленности Минпромторга России и компанией ЧипЭКСПО в 2016 г. Экспозицию активно поддержали директор ФГУП «МНИИРИП» Алексеев Виктор Валентинович и директор Института экстремальной прикладной электроники НИЯУ «МИФИ» Телец Виталий Арсеньевич. Они вошли в Оргкомитет выставки и обратились к руководителям предприятий, приглашая их стать участниками экспозиции.

Причины создания экспозиции обусловлены возрастающими требованиями к качеству поставляемой из-за рубежа , производимой в РФ и используемой на предприятиях радиоэлектроники РФ электронной компонентной базы, а также наличием требований по проведению испытаний ЭКБ на стойкость к внешним механическим, климатическим и радиационным дестабилизирующим факторам.

В экспозиции 2016 г. были представлены испытательные центры, лаборатории контроля качества и сертификации и поставщики контрольно-измерительного оборудования и приборов. Площадь экспозиции составляла более 400 м2 и пользовалась интересом у участников и посетителей выставки. Об этом свидетельствуют десятки договорённостей о намерениях и профессиональных контактов во время работы экспозиции.

Все участники экспозиции приняли участие в Конкурсе «Золотой Чип» в номинации «За достижения в испытании и контроле качества электронной компонентной базы». Члены Жюри Конкурса «Золотой Чип» по достоинству оценили успехи участников экспозиции и, несмотря на жёсткие критерии отбора на Конкурс «Золотой Чип», было введено два дополнительных первых места.

Тема «Испытания и контроль качества ЭКБ» заняла достойное место и в деловой программе выставки. Отдельно хочется отметить круглые столы: «Методические подходы к формированию системы требований по организации контроля качества ИМС в условиях изготовления кристаллов в базовых технологических процессах отечественных кремниевых фабрик» и «Испытания и контроль качества ЭКБ», собравшие около 200 участников, в том числе, первых лиц крупнейших компаний отрасли, представителей ведущих СМИ.

Участники и посетители экспозиции «Испытания и контроль качества ЭКБ» отметили высокий уровень организации и представительства. Экспозиция служит консолидацией усилий производителей и потребителей ЭКБ, производству и экспорту отечественной высокотехнологичной продукции военного назначения, используемой в космической аппаратуре, в системах контроля и управления для атомной промышленности.

www.chipexpo.ru/poluchit-priglasitelnyi


Поделиться:


Комментарии

Текст сообщения*
Защита от автоматических сообщений
 


На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.