
Проблема тестирования связей от компонента с поддержкой периферийного сканирования до разъёмов DIMM на проверяемой плате всегда была актуальна, но вызывала некоторые затруднения. Если использовать для такого приложения модуль памяти, вставленный в разъём, то для автоматического создания тестов необходимо иметь его схему (нетлист), которая чаще всего недоступна конечному пользователю. Более того, даже при наличии всей информации и возможности тестирования платы с модулем памяти будет не понятно, где находятся обнаруженные дефекты: на плате или на модуле.
Для решения данной дилеммы в системах периферийного сканирования всегда применялись DIOS-модули (модули ввода/вывода), заменяющие модули памяти. Номенклатура данных модулей обширна – типов DIMM-разъёмов очень много, и под каждый тип выпускался свой DIOS.
Новая система FLEX DIMM от JTAG Technologies унифицирует один тип DIOS-модуля, позволяя его использовать с различными типами DIMM-разъёмов.
При этом сохраняется преимущество: дефекты определяются с точностью до вывода (даже на контрольных цепях памяти). Система состоит из неизменной основной части, JT 2127/DMU и необходимых переходников под разные типы DIMM-разъёмов, которые обозначаются как JT 2127-Flex xxx, где xxx – тип DIMM (например, 204-3).
Система FLEX DIMM полностью поддерживается средой генерации приложений периферийного сканирования JTAG ProVision, для чего имеются все необходимые библиотеки.
www.jtagtechnologies.ru
Тел.: (812) 313-9159
Комментарии