
Специалисты компании «Родник» приглашают разработчиков на семинар «Расчёт антенн и СВЧ-структур с помощью Altair FEKO», который состоится 15 марта 2016 года в Москве. Мероприятие пройдёт в рамках выставки «ЭкспоЭлектроника-2016» (МВЦ «Крокус Экспо», павильон №2, конференц-зал F). Начало в 11:00.
Посетители семинара смогут получить демонстрационную версию нового пакета Altair FEKO 7.0.2.
Программа семинара:
- общий обзор основных возможностей программы Altair FEKO для разработки ВЧ/СВЧ устройств и приборов;
- новые возможности Altair FEKO 7.0.2 (новые численные методы, интеграция в инжиниринговую платформу Altair HW 14 и поддержка высокопроизводительных расчётов HPC);
- новая версия Antenna Magus;
- анонс выпуска новой версии Altair FEKO 14, как составной части платформы Altair HW 14.
Altair FEKO – пакет программ (мировой стандарт) для трёхмерного электромагнитного моделирования антенн и СВЧ-устройств различного типа. FEKO использует новейшие численные методы расчёта. Широкий выбор методов расчёта позволяет инженеру оптимально использовать FEKO для проектирования антенных устройств и радаров, проектирования СВЧ-устройств различного типа, расчёта ВЧ/СВЧ-приборов, анализа электромагнитной совместимости и так далее.
Главное преимущество FEKO, в сравнении с аналогичными программами, – реализация технологий гибридизации методов расчёта, применимых для решения задач в различных отраслях промышленности. Гибридизация позволяет получать решения, недоступные при использовании каждого из численных методов в отдельности. Такой подход обеспечивает высокую точность расчёта и исключает большие затраты компьютерных ресурсов при моделировании, например, распространения радиоволн на самолёте, корабле и в городских условиях.
Получить бесплатные пригласительные билеты на семинар и выставку «ЭкспоЭлектроника» можно пройдя регистрацию на сайте www.expoelectronica.ru/visitors/e-ticket/get-ticket.aspx#personal.
Выставка будет проходить с 15 по 17 марта 2016 года. На стенде В901 (Павильон № 2, зал № 8) компания «Родник» представит новинки САПР и контрольно-измерительного оборудования.
Комментарии