Платформа Keysight Technologies для выполнения измерений на ПП-пластинах получила новую функцию

Платформа Keysight Technologies для выполнения измерений на ПП-пластинах получила новую функцию

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске новой версии своего высокопроизводительного низкочастотного анализатора шума (A-LFNA), который предназначен для выполнения быстрых, точных и воспроизводимых измерений низкочастотных шумов. Эта версия оснащена новым интерфейсом пользователя и непосредственно интегрируется с ПО WaferPro Express компании Keysight – платформой, выполняющей автоматические измерения на полупроводниковых пластинах. В рамках этой большой интегрированной среды данная платформа предоставляет инженерам исчерпывающее представление о природе шума в их устройствах и схемах, превосходя возможности измерения шумов в автономной системе.

Сегодня инженерам, занятым измерением параметров полупроводниковых приборов, нередко нужна система для измерения шумов, которая обладала бы гибкостью и возможностями расширения. В частности, востребована система, объединяющая расширенные измерения и анализ низкочастотного шума с измерениями на полупроводниковых пластинах в одной мощной платформе, способной управлять тестированием всех характеристик на уровне полупроводниковых пластин. Непосредственная интеграция A-LFNA с ПО WaferPro Express даёт именно такую функциональность. Это интегрированное решение упрощает измерение шума компонентов, отдельных устройств и интегральных схем, как в корпусах, так и на полупроводниковых пластинах. Как и раньше, с помощью WaferPro Express инженеры могут программировать и выполнять высокоскоростные измерения по постоянному току, измерения ёмкости и измерения высокочастотных S-параметров, автоматизируя при этом управление зондовой станцией. Теперь, благодаря модулю для измерения шумов, они могут добавить в набор тестов измерения и анализ шума.

Встроенные в A-LFNA процедуры измеряют параметры по постоянному току и шум. Например, чтобы измерить шум КМОП-транзистора с N-каналом, система автоматически выбирает импедансы источника сигнала и нагрузки, которые наилучшим образом выявляют собственный шум устройства. Инженер может принять эти рекомендованные настройки или внести изменения – на этом инициализация измерения заканчивается. Затем A-LFNA измеряет спектральную плотность мощности шума (шум 1/f) и уровень шума во временной области (RTN). Результирующие данные отображаются в виде нескольких графиков. Различные вкладки упрощают выполнение типовых операций, таких как оценка рабочей точки устройства по постоянному току и измерение наклона кривой спектральной плотности мощности. Кроме того, данные шума можно анализировать и представлять в моделях устройств с помощью средств моделирования, таких как Model Builder Program (MBP) и IC-CAP компании Keysight. Разработчики схем могут использовать эти модели для точного проектирования малошумящих ВЧ-схем и аналоговых цепей.

Keysight A-LFNA обладает лучшей в отрасли чувствительностью к шумам (–183 дБВ2/Гц), что позволяет инженерам, занятым моделированием и измерением параметров цепей, быстро и точно измерять характеристики устройств на высоких напряжениях (до 200 В) и на сверхнизких частотах (от 0,03 Гц). Благодаря таким возможностям A-LFNA идеально подходит для разработки библиотек для технологических процессов на заводах, выпускающих полупроводниковые приборы, и для статистического управления процессами во время изготовления устройств. Производители операционных усилителей и линейных стабилизаторов напряжения тоже могут использовать A-LFNA для измерения параметров выходного шума с целью включения их в технические характеристики.

www.keysight.com


Поделиться:



На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.