Контроль качества ИМС на «Новой электронике-2016»

Контроль качества ИМС на «Новой электронике-2016»

В рамках выставки «Новая электроника-2016» состоится круглый стол «Методические подходы к формированию системы требований по организации контроля качества ИМС в условиях изготовления кристаллов в базовых технологических процессах отечественных кремниевых фабрик». Пройдёт он 13 апреля 2016 г. с 11:00 до 13:00 в «Мраморном Зале» павильона «Форум» ЦВК «Экспоцентр».

Мероприятие проводится при поддержке и непосредственном участии Департамента радиоэлектронной промышленности Министерства промышленности и торговли Российской Федерации.

В ходе дискуссии специалисты дизайн-центров, разработчики и изготовители ЭКБ, представители предприятий контрактного производства будут ознакомлены с опытом работы ОАО «НИИМЭ и Микрон» в цепочке кремниевая фабрика – разработчик – ИМС-сборочное производство, а также с основными методическими подходами по обеспечению и контролю ИМС, создаваемых на основе базовых технологических процессах отечественных кремниевых фабрик.

Регистрация на посещение и участие по e-mail: ea@chipexpo.ru.

Регистрационная форма для заполнения:

  • Ф.И.О.;
  • название компании;
  • должность;
  • контакты (e-mail, телефон).

New-electronics.info


Поделиться:


Комментарии

Текст сообщения*
Защита от автоматических сообщений
 


На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.