Keysight Technologies и Cascade Microtech: исследования полупроводников

Keysight Technologies и Cascade Microtech: исследования полупроводников

Компании Keysight Technologies и Cascade Microtech отмечают 25-летие совместной работы, направленной на решение сложнейших задач в сфере разработки и производства полупроводниковых приборов. Результатом этого сотрудничества стали многочисленные инновации в области проектирования и тестирования на уровне полупроводниковых пластин, которые помогают заказчикам ускорить продвижение изделий на рынок.

История Keysight началась с компании Hewlett-Packard, основанной в 1939 г. Уильямом Хьюлеттом и Дэвидом Паккардом. Компания Cascade Microtech основана в 1983 г. Эриком Стридом и Ридом Глисоном. В 1990 г. компании начали работу по созданию общей линейки продукции, которая привела к существенным технологическим прорывам. Сейчас, благодаря многолетнему опыту тестирования полупроводниковых приборов, совместные инновации этих компаний оказали значительное влияние на способы проектирования полупроводниковых приборов и технологии измерений на полупроводниковых пластинах.

«Многолетнее сотрудничество с Keysight Technologies открыло перед нами уникальные возможности решения проблем заказчиков – отметил президент и исполнительный директор компании Cascade Microtech Майкл Бургер. – В результате сотрудничества, охватывающего все этапы цикла разработки, начиная с самых ранних, мы смогли предложить своим заказчикам истинно инновационные контрольно-измерительные решения, повышающие точность измерений и достоверность результатов».

Лучшие совместные решения Keysight и Cascade Microtech:

  • 1991 г.: анализатор параметров полупроводниковых приборов HP/Keysight 4155 помог заказчикам в измерении малых уровней шума и токов утечки. Отзывы заказчиков показали потребность в расширении этого решения до наконечников пробников и полупроводниковых пластин. Это подстегнуло разработку технологии MicroChamber® и защищённых держателей полупроводниковых пластин компании Cascade Microtech, позволяющих измерять токи менее 10 фА через пробники и контакты держателя. Тогда впервые заказчики смогли увидеть истинные токи утечки изготавливаемых транзисторов.

  • 1999 г.: анализаторы электрических цепей 8510XF, поддерживающие первое широкополосное коаксиальное решение с диапазоном 110 ГГц, и предлагающие заказчикам наилучшие совокупные характеристики, отвечающие требованиям проектирования и тестирования в миллиметровом диапазоне. Появление широкополосного коаксиального решения исключило потребность в применении для одного и того же объекта трёх наборов приборов, пробников и калибраторов, заменив всё это одним измерением за одно свипирование. Это сэкономило заказчикам и время, и деньги, предложив более точные и достоверные результаты вплоть до наконечника пробника.

  • 2015 г.: готовое решение для измерения на полупроводниковых пластинах, обеспечивающее быстрые и точные измерения. За счёт комплексного подхода при конфигурировании, пусконаладке и поддержке достигается значительная экономия времени и снижение рисков. Заказчики получили уверенность в том, что не пропущен ни один компонент. Предварительно проверенная система обеспечила заявленные характеристики до наконечника пробника и сократила время до получения первых данных.

«Более 25 лет совместной работы стали фактором, обеспечивающим успех наших заказчиков в измерении параметров компонентов и полупроводниковых пластин, – сказал вице-президент и генеральный менеджер компании Keysight Technologies Грег Питерс. – Сегодня мы отмечаем наши достижения и надеемся, что в следующие 25 лет наше сотрудничество по-прежнему будет помогать заказчикам в ускорении продвижения их изделий на рынок».

www.keysight.com


Поделиться:



На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.