Компания JTAG Technologies примет участие в отдельной тематической экспозиции «Испытания и контроль качества ЭКБ» на выставке «Новая Электроника-2016».
Задача контроля качества электронных компонентов периодически или постоянно возникает практически перед каждым производителем электронных модулей. Причин может быть много: ответственное применение конечных собранных устройств, частое появление контрафактных компонентов, неправильное хранение и транспортировка ЭКБ.
Многие пользователи систем периферийного сканирования JTAG Technologies используют их не только для тестирования и программирования собранных печатных плат, но и для входного контроля компонентов (их подлинности, целостности разварки, в каких-то случаях – целостности ячеек памяти и пр.).
Поэтому в рамках выставочной экспозиции будут представлены концепции контроля не только плат, но и компонентов. Тестирование и программирование плат и компонентов можно будет увидеть вживую с помощью представленного оборудования.
Выставка пройдёт с 13 по 15 апреля 2016 года в павильоне ФОРУМ ЦВК ЭКСПОЦЕНТР.
Номер стенда компании JTAG Technologies на выставке «Новая электроника-2016» – A7.
Тел.: (812) 313-9159
Комментарии