Испытания и контроль качества ЭКБ на выставке ChipEXPO – 2017

Испытания и контроль качества ЭКБ на выставке ChipEXPO – 2017

C 31 октября по 2 ноября 2017 г. в Москве в ЦВК «Экспоцентр» в павильоне Форум в рамках юбилейной 15-й Международной выставки по электронике, компонентам, оборудованию и технологиям ChipEXPO – 2017 формируется тематическая экспозиция «Испытания и контроль качества ЭКБ».

Создание такой экспозиции инициировал Департамент радиоэлектронной промышленности Минпромторга России. Идею активно поддержали многие предприятия отрасли – лидеры по данной тематике.

В состав Оргкомитета выставки, в части курирования этого направления, вошли директор ФГУП «МНИИРИП» Виктор Валентинович Алексеев и директор Института экстремальной прикладной электроники НИЯУ «МИФИ» Виталий Арсеньевич Телец.

Причины создания экспозиции обусловлены:

1. Возрастающими требованиями к качеству поставляемой из-за рубежа, производимой в РФ и используемой на предприятиях радиоэлектроники РФ электронной компонентной базы.

2. Наличием требований по проведению испытаний ЭКБ на стойкость к внешним механическим, климатическим и радиационным дестабилизирующим факторам.

3. Продвижением продукции российских предприятий электронного машиностроения, предназначенной для проведения контроля и испытания ЭКБ и разработанной по программам импортозамещения.

Впервые экспозиция «Испытания и контроль качества ЭКБ» была представлена на выставке в апреле 2016 г., где выставлялись испытательные центры, лаборатории контроля качества и сертификации и поставщики контрольно-измерительного оборудования и приборов.

Площадь экспозиции составила более 400 м2 и вызвала большой интерес у участников и посетителей. Об этом свидетельствуют десятки договорённостей о намерениях и профессиональные контакты, установленные во время работы экспозиции.

Все участники экспозиции приняли участие в Конкурсе «Золотой Чип» в номинации «За достижения в испытании и контроле качества электронной компонентной базы». Члены жюри Конкурса «Золотой Чип» по достоинству оценили успехи участников экспозиции и, несмотря на жёсткие критерии отбора на Конкурс «Золотой Чип», было введено два дополнительных первых места.

Тема «Испытания и контроль качества ЭКБ» заняла достойное место и в деловой программе выставки. Отдельно следует отметить круглые столы: «Методические подходы к формированию системы требований по организации контроля качества ИМС в условиях изготовления кристаллов в базовых технологических процессах отечественных кремниевых фабрик» и «Испытания и контроль качества ЭКБ», собравшие около 200 участников, в том числе, первых лиц крупнейших компаний отрасли, представителей ведущих СМИ.

Экспозиция способствовала консолидации усилий производителей и потребителей ЭКБ в целях повышения надёжности высокотехнологичной продукции военного назначения, а также используемой в космической технике, в системах контроля и управления для атомной промышленности.

Огранизаторы ChipEXPO приглашают испытательные центры, лаборатории контроля качества и сертификации, разработчиков и производителей ЭКБ, разработчиков и поставщиков контрольно-измерительного оборудования принять участие в экспозиции «Испытания и контроль качества ЭКБ» на выставке «ChipEXPO – 2017» (31 октября – 2 ноября 2017 г., ЦВК «Экспоцентр», павильон Форум).

Заявку на участие в экспозиции Испытания и контроль качества ЭКБ можно заполнить здесь.

www.chipexpo.ru


Поделиться:


Комментарии

Текст сообщения*
Защита от автоматических сообщений
 


На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.