Компания Tektronix, Inc., ведущий мировой поставщик контрольно-измерительных решений, представила автоматизированное решение для тестирования передатчиков USB 3.1 Type-C первого и второго поколения (Gen1 и Gen2), которое сочетает полную поддержку SigTest с инструментами отладки и анализа DPOJET.
Теперь инженеры могут обеспечить лучшие конструктивные запасы и быстрее выводить разрабатываемые изделия на рынок. Новое решение в полном объёме обеспечивает тестирование на соответствие стандарту и поддерживает новый разъём Type-C, тестовую оснастку и соответствующие тесты канала.
SigTest – официальный программный инструмент для тестирования электрических параметров на соответствие стандарту SuperSpeed USB 3.1, предлагает лишь ограниченный анализ причин отказов и вообще не поддерживает расширенный анализ. Объединив поддержку SigTest с DPOJET – лучшим инструментом для анализа глазковых диаграмм, джиттера, шума и временных характеристик, – компания Tektronix предоставила разработчикам интерфейсов USB значительно лучшее решение, чем альтернативные варианты, поддерживающие лишь SigTest.
Опция USBSSP-TX, предназначенная для применения с осциллографами Tektronix серий MSO/DPO/70000DX/SX, предлагает автоматический запуск тестов одной кнопкой и экономит время, гарантируя правильность конфигурации контрольно-измерительного оборудования. Это позволяет выполнять точные тесты операторам, не имеющим глубоких познаний в области технических характеристик USB. По окончании тестирования генерируется подробный отчёт, указывающий все отклонения от требуемых характеристик и содержащий данные о допусках измерения. В отличие от альтернативных решений, инженеры могут повторить измерения в автономном режиме для выполнения дополнительного анализа и отладки.
Для более глубокого анализа, DPOJET позволяет настраивать параметры анализа, что ускоряет диагностику и упрощает измерение характеристик изделия. Например, контуры глазка BER в надстройке DPOJET можно использовать для разложения джиттера и шума на вертикальную и горизонтальную составляющие, что облегчает измерение параметров изделий.
Комментарии