Новый метод испытаний тонких полупроводниковых кристаллов

Новый метод испытаний тонких полупроводниковых кристаллов

Подразделение Nordson DAGE компании Nordson Corporation продолжает отвечать на вызовы в области испытаний микроматериалов и представляет новый способ оценки прочности полупроводниковых кристаллов методом кантилеверного изгиба. Этот метод испытаний может применяться для полупроводниковых кристаллов толщиной менее 50 мкм, когда невозможно применить метод трёхточечного изгиба.

Полупроводниковые кристаллы толщиной менее 50 мкм имеют свойство быть очень гибкими – фактически, настолько, что становится практически невозможным приложение нагрузки для проведения испытаний. При кантилеверном изгибе с применением установки 4000Plus к полупроводниковому кристаллу прикладывается вертикальное усилие и прецизионно управляемое возвратное движение, что в сочетании со специальным механизмом фиксации и ПО обеспечивает изгиб полупроводникового кристалла на точно заданную высоту (нагрузочную высоту) относительно нулевого уровня. Данный метод позволяет вычислять сопротивление изгибу в мегапаскалях в момент разлома.

Метод испытаний кантилеверным изгибом при помощи установки 4000Plus – результат многих месяцев совместной работы с рабочей группой SEMI (Япония).

Nordson.com


Поделиться:


Комментарии

Текст сообщения*
Защита от автоматических сообщений
 


На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.