Компания CyberOptics® Corporation анонсирует технологию подавления множественных отражений (Multi-Reflection Suppression, MRS), которая, согласно заявлению разработчика, способна наделить оборудование для инспекции уникальными возможностями.
3D-информация из различных видов объекта инспекции объединяется вместе с помощью развитых алгоритмов и технологии MRS, подавляющей все отражения, которые могут исказить данные. Это особенно важно для инспекции блестящих объектов. Архитектура датчиков позволяет захватывать и передавать данные одновременно и параллельно, в противоположность стандартному последовательному подходу. По словам разработчика, это позволяет добиться существенного прорыва в производительности и точности. Данную технологию планируется применять не только для 3D-инспекции электронных сборок, но и для инспекции полупроводниковых изделий, а также использовать для выхода компании CyberOptics на рынок метрологии общего назначения – третий ключевой рынок для компании.
Комментарии