Компания Agilent Technologies объявила о выпуске атомно-силового микроскопа (АСМ) 7500 AFM – передового прибора, устанавливающего новые стандарты производительности, функциональности и эргономики для измерений и манипуляций в нанодиапазоне. Agilent 7500 обеспечивает атомарное разрешение за счёт использования сканера в диапазоне 90 мкм с обратной связью позиционирования.
Agilent 7500 – новое поколение приборов, позволяющее расширить область применения метода атомно-силовой микроскопии в науке и промышленности, благодаря высокому разрешению сканирования и точному контролю температуры и среды проведения эксперимента. Новый микроскоп 7500 AFM является идеальным решением для перспективных направлений в материаловедении, биологии, науке о полимерах, электрохимии, измерениях электрических свойств и нанолитографии.
7500 AFM имеет встроенную камеру контролируемой среды с удобным доступом и герметичный отсек для исследуемых образцов, полностью изолированный от остальной системы. Расположенные в камере датчики влажности и температуры постоянно контролируют текущие условия. В камеру можно легко закачивать и откачивать из неё кислород или другие химически активные газы. Опциональный контроллер температуры образцов обеспечивает точное регулирование в диапазоне –30…+250°C с достаточным разрешением, требуемым для любого эксперимента.
Стандартная сменная насадка сканера системы AFM поддерживает более пяти режимов отображения и при необходимости может легко заменяться специализированными сменными насадками сканера, расширяющими возможности прибора. Микроскоп 7500 сразу позволяет получать высококачественное изображение и проводить электрохимические исследования, а специальный контроллер Agilent MAC Mode III обеспечивает измерение электрических свойств на одиночном проходе.
Дополнительную информацию можно найти на странице www.agilent.com/find/7500.
Комментарии