В июле 2013 года в ходе деловой поездки представителей ООО «Совтест АТЕ» в головной офис фирмы Microcraft в Японии был продлён договор о сотрудничестве между компаниями. В соответствии с подписанным дистрибьюторским соглашением ООО «Совтест АТЕ» по-прежнему является официальным представителем фирмы Microcraft на территории России и стран СНГ.В июле 2013 года в ходе деловой поездки представителей ООО «Совтест АТЕ» в головной офис фирмы Microcraft в Японии был продлён договор о сотрудничестве между компаниями. В соответствии с подписанным дистрибьюторским соглашением ООО «Совтест АТЕ» по-прежнему является официальным представителем фирмы Microcraft на территории России и стран СНГ.
Залогом крепких партнёрских отношений между компаниями Microcraft и «Совтест АТЕ», в первую очередь, являются многочисленные успешно реализованные проекты. Более чем за 10 лет совместной работы участки контроля качества на российских предприятиях были оснащены 35-ю тестовыми системами серии EMMA. Только в этом году, согласно рассмотренному на встрече отчёту о продажах, ООО «Совтест АТЕ» уже осуществило поставку четырёх тестовых систем. Во втором полугодии планируется, как минимум, удвоить эту цифру, в том числе – за счёт поставки новейшего тестера ПП/МПП E8L6151 с восемью подвижными пробниками, который на сегодняшний день является самым быстрым в мире (быстродействие – 10 000 точек в минуту).
После подписания соглашения о дальнейшем сотрудничестве представителям «Совтест АТЕ» было продемонстрировано производство Microcraft, а также наиболее популярные и зарекомендовавшие себя на потребительском рынке модели тестовых систем. Об особенностях и специфике их работы рассказали непосредственно инженеры-разработчики оборудования.
Наибольшее внимание было уделено тестовой системе с подвижными пробниками TDR4033, которую сегодня активно используют компании Intel и AMD для проверки качества корпусов микросхем, получаемых от поставщиков. Данная модель позволяет в автоматическом режиме производить контроль волнового сопротивления проводников на корпусах микросхем типа BGA и 4С, для чего в TDR4033 применён дифференциальный пробник с шагом 0,254 мм.
Также японские разработчики отметили решения для тестирования сложных плат при мелко- и среднесерийном производстве – высокопроизводительную модель E8L6151 с вертикальной загрузкой ПП – и решение для средне- и крупносерийного производства – модель F4М6151AL с горизонтальной загрузкой ПП, позволяющую минимизировать участие оператора в процессе тестирования (требуется только загрузить поддон с платами и забрать его после завершения тестирования с рассортированными платами по принципу годен/не годен).
Комментарии