Семинар по тестированию полупроводниковых устройств

С 26 по 27 июня 2013 компании Agilent Technologies Inc., Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают на семинар «Комплексное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току и в СВЧ-диапазонах с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и импедансных тюнеров Maury Microwave».

С 26 по 27 июня 2013 компании Agilent Technologies Inc., Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают на семинар «Комплексное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току и в СВЧ-диапазонах с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и импедансных тюнеров Maury Microwave».

Семинар пройдёт в Москве.

26 июня эксперты Agilent Technologies познакомят слушателей с новейшими контрольно-измерительными технологиями для измерения в СВЧ- и мм-диапазоне, 27 июня – с решениями для измерений по постоянному току (до 10 кВ / 1500 А).

В семинаре примет участие директор департамента параметрического тестирования компании Agilent Masaki Yamamoto, технические специалисты высочайшего класса компаний Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwave.

Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ- и мм-диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Компания Agilent Technologies совместно с компаниями Cascade Microtech и Maury Microwave предлагают функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР компании Agilent, зондовые станции компании Cascade Microtech и импедансные тюнеры компании Maury Microwave.

Программа семинаров.

26 июня. Измерения в СВЧ- и мм-диапазоне:

  • Моделирование вольт-амперных характеристик СВЧ-транзисторов в импульсном режиме.
  • Измерения характеристик устройств с переменным импедансом источника и нагрузки.
  • Теория и практика измерений Х-параметров.
  • Проектирование усилителя в САПР Advanced Design System на основе измеренных данных и модели.
  • Анализ устойчивости систем.
  • Измерение шумовых параметров.

27 июня. Измерения по постоянному току (до 10 кВ / 1500 А):

  • Обзор решений Agilent Technologies для параметрического тестирования.
  • Расширение возможностей Agilent EasyExpert (версия 5.5), экспорт данных в .mdm формат.
  • Новые измерительные возможности B1500A.
  • Расширение измерительных возможностей B1505A до 10 кВ / 1500 А (тестирование IGBT, SiC, GaN).
  • Новая серия источников/измерителей с ультранизкими фазовыми шумами Agilent B2960A.
  • Новые возможности системы Agilent 4080 для тестирования на производстве.

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться.

Подробная информация на сайте www.agilent.ru/find/russia_events или по телефону +7 (495) 797-3928.

На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.