Компания Agilent Technologies Inc. объявила об усовершенствовании модулей источников/измерителей (SMU) и программного обеспечения для своего анализатора Agilent B1500A 0150 – ведущего в отрасли параметрического анализатора полупроводниковых приборов.
Новый модуль источника/измерителя со средним значение тока и длительностью импульсов от 50 мкс B1514A обеспечивает измерение параметров коротких импульсов в диапазоне напряжений до 30 В и токов до 1 A, а также отображение измеряемых величин в режиме осциллографа.
Модуль источника/измерителя средней мощности B1511B обеспечивает измерение малых значений тока с разрешением от 0,1 фА при использовании дополнительного модуля коммутатора и измерителя аттоамперных токов. Версия 5.5 программного обеспечения EasyEXPERT позволяет выполнять дистанционное тестирование без сложного программирования как в ручном режиме, так и с применением более 300 готовых к использованию прикладных тестов.
С начала 1980-х годов, когда был выпущен первый в мире цифровой параметрический анализатор, компания Agilent Technologies постоянно совершенствует методы анализа параметров полупроводниковых приборов и оборудование для него. Преумножая эти традиции, новый анализатор B1500A поддерживает все виды параметрического тестирования, обеспечивая измерение вольт-амперных характеристик (ВАХ) в диапазоне от 0,1 фА до 1 А и от 0,5 мкВ до 200 В, ёмкости в диапазоне частот от 1 кГц до 5 МГц, а также сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ и ВАХ переходных процессов вплоть до наносекундного диапазона.
Усовершенствование анализатора полупроводниковых приборов B1500A включают добавление следующих возможностей:
- быстрые импульсные измерения с использованием модуля источника/измерителя со средним значение тока и длительностью импульсов от 50 мкс B1514A (Прибор позволяет проводить импульсные измерения при длительности импульсов от 50 мкс, что в 10 раз меньше, чем длительность импульсов аналогичных обычных источников/измерителей. Кроме того, он обеспечивает измерения в широком диапазоне (до 30 В / 1 А) с возможностью программирования значений выходного напряжения и тока. Измерение импульсных ВАХ обычно требуется при определении характеристик современных материалов и устройств. Модуль B1514A поддерживает режим осциллографа ПО EasyEXPERT, который позволяет визуально отслеживать формы сигналов напряжения и тока. Благодаря этой функции пользователи имеют возможность быстро и просто оптимизировать параметры установки для импульсных измерений);
- измерение очень малых значений тока от 0,1 фА с использованием модуля источника/измерителя средней мощности B1511B в сочетании с модулем коммутатора и измерителя аттоамперных токов (эти приборы обеспечивают высокую точность определения характеристик малых токов, например, токов утечки, что позволяет сократить сроки исследований и разработки перспективных устройств);
- удобство определения характеристик устройств с помощью программного обеспечения EasyEXPERT 5.5. (Обновленное программное обеспечение имеет функцию дистанционного управления при выполнении встроенных прикладных тестов, графический пользовательский интерфейс для управления матричным коммутатором, а также расширенную библиотеку приложений. При использовании совместно с модулем источника/измерителя со средним значение тока и длительностью импульсов от 50 мкс B1514A программа поддерживает отображение измеряемых величин в режиме осциллографа. Программа EasyEXPERT на основе графического пользовательского интерфейса работает в операционной системе Windows 7 и обеспечивает эффективное и воспроизводимое определение характеристик устройств в различных режимах – от интерактивных ручных измерений до полуавтоматических испытаний на пластине).
Анализатор полупроводниковых приборов B1500A с модулями источников/измерителей B1514A и B1511B в сочетании с программным обеспечением EasyEXPERT представляет собой универсальное функционально законченное решение для измерения параметров различных устройств с высокой точностью, эффективностью и воспроизводимостью. Анализатор поддерживает все современные методы параметрического тестирования для определения электрических характеристик различных электронных устройств, материалов, полупроводниковых приборов, активных/пассивных компонентов и схем.
Комментарии