Радиационно-стойкая микросхема памяти 1657РУ1У

Радиационно-стойкая микросхема памяти 1657РУ1У ОАО НПЦ «ЭЛВИС» сообщает о начале серийных поставок радиационно-стойких микросхем памяти 1657РУ1У.

ОАО НПЦ «ЭЛВИС» сообщает о начале серийных поставок радиационно-стойких микросхем памяти 1657РУ1У.

Микросхема 1657РУ1У представляет собой статическое асинхронное КМОП ОЗУ (SRAM) ёмкостью 4 Мб с организацией 512Кx8, стойкое к воздействию специальных факторов и предназначенное для использования в большинстве радиационно-стойких приложений.

Косвенными аналогами 1657РУ1У являются микросхемы UT8R512K8 (Aeroflex), AT60142E (Atmel), HX6408 (Honeywell) и AS5C512K8 (Austin Semiconductor).

С целью обеспечения качественного экстраполирования жизнеспособности устройства в радиационной среде испытания микросхемы 1657РУ1У проведены на моделирующих установках.

На воздействие отдельных тяжёлых заряженных частиц испытания микросхемы проводились на базе изохронного циклотрона У-400М (ОИЯИ, г. Дубна Московской области).

Облучение микросхемы проводилось стандартным набором ионов: Kr, Xe, Ar, Ne при нормальной температуре корпуса, ионами Xe при температуре 65°С и впервые в истории отечественных испытаний ионами Bi при температуре 100°С.

ОЗУ 1657РУ1У является первой отечественной микросхемой, прошедшей испытания по оценке воздействия на работоспособность изделия вторичного излучения, вызванного нейтронными потоками, что является особенно актуальным для авиационной электроники.

www.multicore.ru

Тел.: +7 (495) 913-3251


Поделиться:


Комментарии

Текст сообщения*
Защита от автоматических сообщений
 

На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.