Keithley для тестирования силовых полупроводниковых приборов

Компания Keithley Instruments, Inc. объявила о расширении своего пакета программ для автоматизированного измерения параметров (ACS). Пакет ACS оптимизирован для автоматизированных измерений на полупроводниковых пластинах, включая автоматическое измерение характеристик, анализ надёжности и тестирование заведомо хороших кристаллов. Обновлённая версия ACSV5.0 расширяет функции системных источников–измерителей SourceMeter Keithley модели 2651A (большой ток) и модели 2657A (высокое напряжение), позволяя выполнять автоматизированное тестирование на уровне полупроводниковых пластин таких силовых полупроводниковых приборов, как силовые МОП транзисторы, биполярные транзисторы с изолированным затвором, биполярные транзисторы, диоды и т. п.

Версия ACSV5.0 включает ряд усовершенствований:

  • библиотеку силовых устройств для применения с системными источниками–измерителями SourceMeter модели 2651A (до 50 A или до 100 A при подключении двух приборов);
  • модели 2657A (до 3 тыс. В), которые поддерживают тестирование многовыводных силовых компонентов в сочетании с маломощными приборами SourceMeter серии 2600B или анализатором параметров полупроводниковых приборов 4200-SCS для ускорения и упрощения создания сценариев тестирования силовых полупроводниковых приборов, таких как силовые МОП транзисторы, биполярные транзисторы с изолированным затвором, биполярные транзисторы, диоды и т. п.;
  • поддержку аппаратного сканирования, распознания и управления конфигурацией мощных моделей 2651A и 2657A, что позволяет пользователям быстро подключать эти приборы к ПК, устанавливать соединение и приступать к тестированию;
  • поддержку источников-измерителей серии 2600, оборудованных интерфейсом TSP-Link, которые используют технологию встроенного процессора сценариев испытаний (TSP) для организации многопроцессорной среды, обеспечивающей высокую параллельную производительность;
  • примеры тестов, таких как высоковольтное тестирование надёжности на уровне кремниевой пластины (WLR), которые опираются на широкий диапазон функций тестирования надёжности маломощных устройств, предлагаемых в предшествующих версиях ACS, что даёт пользователям превосходную отправную точку для быстрой модификации и создания новых тестов;
  • поддержку измерения ВФХ в диапазоне ±200 В опцией силовых измерений модели 4200-CVU-PWRC-V для анализатора 4200-SCS, которая позволяет измерять ВАХ и ВФХ в широких пределах для наиболее полного определения характеристик силовых полупроводниковых компонентов.

Программный пакет ACS объединяет несколько приборов в единую измерительную систему, оптимизированную по гибкости, скорости и производительности тестирования и анализа. Его интуитивный графический интерфейс упрощает настройку измерительных приборов, выбор параметров измерения, выполнение измерений ВАХ и отображение результатов. Пользователи могут пройти весь путь от создания нового теста до измерения параметров новых устройств за малую часть того времени, которое они потратили бы, применяя старые методы разработки тестов. Не менее важно и то, что ACS предлагает все инструменты, необходимые для настройки теста, анализа данных и экспорта результатов, не выходя из среды ACS. Пакет ACS предназначен для выполнения тестов с помощью полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций. Кроме того, компания предлагает программное обеспечение ACSBasicEdition для измерения параметров полупроводниковых приборов с помощью ручных пробников или тестовой оснастки.

www.arttool.ru

На данном сайте используются cookie для сбора информации технического характера и обрабатывается Ваш IP-адрес. Продолжая использовать этот сайт, вы даете согласие на использование файлов cookies.