С выпуском САПР IC-CAP 2013.01 предприятие внесло улучшения в свою основную платформу для моделирования высокочастотных устройств. Одним из ключевых является решение для экстракции Angelov-GaN – стандартной компактной модели полупроводниковых приборов на основе нитрида галлия. Нитрид–галлиевые полупроводниковые приборы широко применяются в современных ВЧ-усилителях мощности и в автомобильной электронике. Моделирование таких устройств связано с определенными трудностями из-за влияния захвата зарядов и тепловых эффектов на электрические характеристики прибора. В качестве первого приближения при моделировании нитрид–галлиевых приборов использовались существующие модели на основе арсенида галлия (GaAs), но они оказались недостаточно точными. Модель Angelov-GaN, созданная профессором Ангеловым в Технологическом университете Чалмерса, быстро завоевала популярность в качестве удачного решения этой проблемы.
Модуль Agilent W8533 для экстракции моделей Angelov-GaN, входящий в состав САПР IC-CAP, разработан в сотрудничестве с промышленными партнёрами и проверен на реальных производственных условиях. Он предлагает специальную программную среду, позволяющую выполнять необходимые измерения и экстракцию модели Angelov-GaN. Модуль поддерживает анализаторы цепей Agilent Technologies, которые используются для измерения S-параметров. Удобный интерфейс позволяет выполнять пошаговую экстракцию параметров модели. Кроме того, все параметры модуля являются настраиваемыми, что позволяет адаптировать его к различным производственным технологиям, использующим GaN. Моделирование выполняется в САПР ADS.
IC-CAP 2013.01 предлагает новую среду программирования Python, которая в 100 раз ускоряет выполнение таких типовых задач, как экстракция параметров, анализ данных, управление приборами и интерфейсами. Она обеспечивает лучшую организацию кода и поддерживает широкий набор библиотек для математических расчётов, управления приборами и статистического анализа. Программы на языке Python совместимы с существующим ПО, что гарантирует совместимость с текущими проектами IC-CAP.
Новые возможности САПР IC-CAP 2013 .01 включают поддержку симуляторов Smartspice и измерение компрессии динамического диапазона и двухтональной интермодуляции с помощью анализатора цепей Agilent PNA-X. Что играет ключевую роль, поскольку измерение характеристик нелинейных устройств очень важно для проверки точности модели в реальных приложениях. Другой компонент платформы – IC-CAP WaferPro (мощное решение для автоматизированных измерений на полупроводниковых пластинах) – тоже дополнен функциями, повышающими удобство работы и улучшающими интерфейс пользователя, что облегчает разработку процесса тестирования.
Комментарии